更新時(shí)間:2023-11-08
EPOCH LTC數(shù)字*聲探傷儀體現(xiàn)了當(dāng)今Z**的技術(shù)。該儀器體積小而重量輕,僅重0.96 公斤(2.12 磅)。EPOCH LTC 的設(shè)計(jì)基于的EPOCH XT,其功能齊備,符合EN12668-1標(biāo)準(zhǔn),不僅具有大量的標(biāo)準(zhǔn)性能,而且還配有多個(gè)專門的選項(xiàng)以滿足用戶的檢測需要。
免費(fèi)咨詢:
僅供科研
EPOCH LTC*聲波探傷儀產(chǎn)品特點(diǎn):
密封外殼,符合IP67要求,可在惡劣環(huán)境下使用
符合EN12668-1標(biāo)準(zhǔn)
重量輕,僅為0.96 公斤(2.12 磅)
全VGA多色彩穿透反射式顯示功能
USB(OTG)端口,用于與計(jì)算機(jī)通訊以及直接打印
袖珍SD存儲(chǔ)卡以及具有標(biāo)準(zhǔn)字母數(shù)字式數(shù)據(jù)電子自動(dòng)記錄器的機(jī)載存儲(chǔ)器
標(biāo)準(zhǔn)動(dòng)態(tài)DAC/TVG曲線功能
具有數(shù)字濾波器的數(shù)字高動(dòng)態(tài)范圍接收器
帶有調(diào)節(jié)選項(xiàng)的高性能方波脈沖發(fā)生器
EPOCH LTC*聲波探傷儀技術(shù)參數(shù):
EPOCH LTC*聲波探傷儀 | |
基本規(guī)格 | |
符合 | EN12668-1 標(biāo)準(zhǔn) |
重量 | 0.96 公斤 (2.12 磅),帶鋰離子電池 |
尺寸 | (高 x 寬 x 厚) 223.3 毫米 x 128.9 毫米 x 55.1 毫米 (8.79英寸 x 5.07英寸 x 2.17 英寸) |
鍵盤 | 英文、、日語或中文 |
語言 | 英文、西班牙語、法語、德語、意大利語、日語、中文、俄語、挪威語、瑞典語 |
傳感器連接 | LEMO 00 |
電池 | 充電鋰離子電池。標(biāo)準(zhǔn)AA電池包 |
電池工作時(shí)間 | - 鋰離子電池:8 小時(shí)到 9 小時(shí) |
- AA 鋰離子電池:3 小時(shí)到 4 小時(shí) | |
電源要求 | 交流主電源:100 - 120 VAC、200 - 240 VAC、50 - 60 Hz |
環(huán)境評(píng)級(jí) | |
符合 IP67 環(huán)境侵入保護(hù)評(píng)級(jí) | |
可在美軍標(biāo)準(zhǔn) MIL-STD-810F 程序1和國家防火協(xié)會(huì)規(guī)范NFPA 70E 500節(jié) 1級(jí) 2分段 D組中規(guī)定的爆炸氣體環(huán)境中應(yīng)用。 | |
通過了IEC 60068-2-27,60 g,6 ms H.S.的防震測試,3軸,共18軸。 | |
通過了IEC 60068-2-6的振動(dòng)(正弦振動(dòng))測試,0.03英寸DA為50 Hz 到150 Hz,或者2 g,20掃查周期。 | |
顯示 | |
彩色穿透反射式液晶顯示 | 60 Hz 刷新率,用戶可選擇不同色彩主題和亮度, 兩個(gè)分屏模式和一個(gè)全屏模式。 |
顯示器尺寸 | 640 像素 (寬) x 480 像素 (高); 75 毫米 (2.95英寸) 寬 x 56 毫米 (2.21英寸) 高 x 94 毫米 (3.7英寸) 對(duì)角線 |
波幅柵格模式 | 100% 或 110% 波幅顯示 |
時(shí)基柵格模式 | 標(biāo)準(zhǔn)格式為 0 到 10 格,聲程模式將聲程范圍分成5個(gè)相等的柵格??缍饶J揭詵鸥窬€來表示聲程跨距。 |
脈沖發(fā)生器 | |
方波脈沖發(fā)生器 | 寬度固定的方波脈沖發(fā)生器可有效地用于一般缺陷探測應(yīng)用。 |
脈沖寬度 | 主體儀器中寬度固定。使用EPLTC-SWP選項(xiàng),從25 ns 到 5,000 ns (0.1 MHz)可調(diào)。 |
脈沖重復(fù)頻率 (PRF) | 由儀器軟件自動(dòng)控制,范圍從 10 Hz 到 500 Hz。 |
測量速率 | 10 Hz 到 500 Hz。永遠(yuǎn)與PRF相等。 |
激發(fā)能量設(shè)置 | 100 伏到 400 伏,100伏增量 |
阻尼 | 50,100,200,400 歐姆 |
接收器 | |
增益 | 0 dB 到 110 dB - 位于功能鍵之上的兩個(gè)用戶定義的增益增量的調(diào)整和預(yù)置。 |
儀器總帶寬 | 0.2 MHz 到 26.5 MHz,在 -3 dB處 |
數(shù)字濾波器設(shè)置 | 標(biāo)準(zhǔn):0.2 MHz到 10.0 MHz 寬帶:2.0 MHz到 21.5 MHz 高通:8.0 MHz到 26.5 MHz |
檢波 | 全波、正半波、負(fù)半波、射頻 |
系統(tǒng)線性 | 水平:+/- 0.5% FSW垂直:0.25% FSH,放大器精度:+/- 1 dB |
抑制 | 0% 到 80% 滿屏高,帶可視警告 |
校準(zhǔn) | |
速度和零偏移的自動(dòng)距離校準(zhǔn) | |
檢測模式 | 脈沖回波、雙晶或穿透 |
單位 | 毫米、英寸或微秒 |
范圍 | 主體儀器:4 毫米到 5,000 毫米 (0.144 英寸到200英寸) |
延長范圍選項(xiàng) (PN: EPLTC-RANGE) | 延長范圍選項(xiàng) (PN: EPLTC-RANGE):4 毫米到 10,000 毫米 (0.144 英寸到400英寸) |
速度 | 635到 15240 米/秒 (0.025到0.6000英寸/微秒) |
零偏移 | 0到750 微秒 |
顯示延遲 | -59毫米到較為大范圍 (-2.323英寸到較為大范圍) |
折射角度 | 10° 到 85°,分辨率為 0.1° |
測量 | |
類型 | 厚度、聲程、投影、深度、波幅、閘門1的傳播時(shí)間 |
閘門2選項(xiàng) (PN: EPLTC-GATE2) | 可進(jìn)行不依據(jù)閘門2測量和閘門2報(bào)警的回波-回波測量。 |
四個(gè)測量顯示位置 | 用戶可以從任何一個(gè)閘門選擇多達(dá)四個(gè)測量值實(shí)時(shí)顯示在屏幕上。 |
動(dòng)態(tài) DAC/TVG 標(biāo)準(zhǔn) | 帶有多達(dá)6條報(bào)警曲線的ASME、ASME III、JIS、CUSTOM DAC??蛇M(jìn)行曲線增益的動(dòng)態(tài)調(diào)整,動(dòng)態(tài)范圍 110 dB,斜率100 dB/μs,捕捉點(diǎn)數(shù)多達(dá)50個(gè)。 |
波幅測量 | 0% 到 110%滿屏高 |
X-值校正 | 從表面距離測量值中減去聲束出射點(diǎn)到探頭前沿的距離。 |
閘門 1 | 測量回波高度和傳播時(shí)間。 |
閘門起點(diǎn) | 在整個(gè)顯示范圍內(nèi)可變。 |
閘門寬度 | 在閘門起點(diǎn)到顯示終點(diǎn)的范圍內(nèi)可變。 |
閘門高度 | 在2%到95%滿屏高的范圍內(nèi)可變。 |
報(bào)警 | 正、負(fù)閾值;較為小深度 |
縮放 | 顯示范圍為閘門1的寬度。 |
輸入/輸出 | |
USB | 用于與PC機(jī)通訊、打印以及使用USB驅(qū)動(dòng)器進(jìn)行數(shù)據(jù)存儲(chǔ)的USB OTG端口 |
VGA 輸出端口 | 用于與PC機(jī)顯示器和/或投影儀連接 |
袖珍 SD | 用于數(shù)據(jù)存儲(chǔ)的插卡孔 |
*聲波探傷儀的十問十答
一、什么是無損探傷?
無損探傷是在不損壞工件或原材料工作狀態(tài)的前提下,對(duì)被檢驗(yàn)部件的表面和內(nèi)部質(zhì)量進(jìn)行檢查的一種測試手段。
二、常用的探傷方法有哪些?
常用的無損探傷方法有:X光射線探傷、*聲波探傷、磁粉探傷、滲透探傷、渦流探傷、γ射線探傷、螢光探傷、著色探傷等方法。
三、試述磁粉探傷的原理?
它的基本原理是:當(dāng)工件磁化時(shí),若工件表面有缺陷存在,由于缺陷處的磁阻增大而產(chǎn)生漏磁,形成局部磁場,磁粉便在此處顯示缺陷的形狀和位置,從而判斷缺陷的存在。
四、試述磁粉探傷的種類?
1、按工件磁化方向的不同,可分為周向磁化法、縱向磁化法、復(fù)合磁化法和旋轉(zhuǎn)磁化法。
2、按采用磁化電流的不同可分為:直流磁化法、半波直流磁化法、和交流磁化法。
3、按探傷所采用磁粉的配制不同,可分為干粉法和濕粉法。
五、磁粉探傷的缺陷有哪些?
磁粉探傷設(shè)備簡單、操作容易、檢驗(yàn)迅速、具有較高的探傷靈敏度,可用來發(fā)現(xiàn)鐵磁材料鎳、鈷及其合金、碳素鋼及某些合金鋼的表面或近表面的缺陷;它適于薄壁件或焊縫表面裂紋的檢驗(yàn),也能顯露出一定深度和大小的未焊透缺陷;但難于發(fā)現(xiàn)氣孔、夾碴及隱藏在焊縫深處的缺陷。
六、缺陷磁痕可分為幾類?
1、各種工藝性質(zhì)缺陷的磁痕;
2、材料夾渣帶來的發(fā)紋磁痕;
3、夾渣、氣孔帶來的點(diǎn)狀磁痕。
七、試述產(chǎn)生漏磁的原因?
由于鐵磁性材料的磁率遠(yuǎn)大于非鐵磁材料的導(dǎo)磁率,根據(jù)工件被磁化后的磁通密度B=μH來分析,在工件的單位面積上穿過B根磁線,而在缺陷區(qū)域的單位面積上不能容許B根磁力線通過,就迫使一部分磁力線擠到缺陷下面的材料里,其它磁力線不得不被迫逸出工件表面以外出形成漏磁,磁粉將被這樣所引起的漏磁所吸引。
八、試述產(chǎn)生漏磁的影響因素?
1、缺陷的磁導(dǎo)率:缺陷的磁導(dǎo)率越小、則漏磁越強(qiáng)。
2、磁化磁場強(qiáng)度(磁化力)大?。捍呕υ酱?、漏磁越強(qiáng)。
3、被檢工件的形狀和尺寸、缺陷的形狀大小、埋藏深度等:當(dāng)其他條件相同時(shí),埋藏在表面下深度相同的氣孔產(chǎn)生的漏磁要比橫向裂紋所產(chǎn)生的漏磁要小。
九、某些零件在磁粉探傷后為什么要退磁?
某些轉(zhuǎn)動(dòng)部件的剩磁將會(huì)吸引鐵屑而使部件在轉(zhuǎn)動(dòng)中產(chǎn)生摩擦損壞,如軸類軸承等。某些零件的剩磁將會(huì)使附近的儀表指示失常。因此某些零件在磁粉探傷后為什么要退磁處理。
十、*聲波探傷的基本原理是什么?
*聲波探傷是利用*聲能透入金屬材料的深處,并由一截面進(jìn)入另一截面時(shí),在界面邊緣發(fā)生反射的特點(diǎn)來檢查零件缺陷的一種方法,當(dāng)*聲波束自零件表面由探頭通至金屬內(nèi)部,遇到缺陷與零件底面時(shí)就分別發(fā)生反射波來,在螢光屏上形成脈沖波形,根據(jù)這些脈沖波形來判斷缺陷位置和大小。
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